ICタグもTRONSHOWの重要テーマ。午前中の基調講演に続く、午後のセッションではユビキタスIDセンター所長の坂村健氏と、慶応大学教授でオートIDラボ・ジャパン所長の村井純氏が対談を行った。


写真1●講演タイトルからしてこれだ。「ユビキタスIDセンターとオートIDセンターは仲良し」。坂村氏は米国への“対抗”と見られることを嫌い、しきりに友好をアピールした


写真2●対談の席上、両氏は2004年中に国内で共同実験を行うことを発表した。なお、米オートIDセンターは2003年10月に解散した。現在は、研究開発に特化した「オートIDラブズ」と、電波規制やプライバシなどの問題を取り扱う業界団体「EPCグローバル」がオートIDセンターの役割を引き継いでいる


写真3●自動認識装置の大手メーカー、サトーの藤田東久夫会長。ICタグ関連機器も積極的に扱う同社だが「ICタグの製造時には1割もの初期不良が出る。またICタグは折り曲げに弱く、図書館の本に使うと1年以内に3、4割がダメになる」と、ICタグの課題を明らかにした。「コストが安く、技術もこなれたバーコードとICタグを使い分けるのが現実的な解だ」（藤田氏）

（本間 純＝日経コンピュータ）

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