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ITpro EXPO 2017

会 期2017年10月11日~10月13日会 場東京ビッグサイト
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ITpro EXPO 2017速報

システム計画研究所/ISP、ディープラーニングを応用した外観検査システム

数十~数百枚の正常データを基に異常を検出

松田 千穂 2017/10/12 日経テクノロジーオンライン

 システム計画研究所/ISP(本社東京)は、ディープラーニング(深層学習)を応用した外観検査用システム「gLupe」を「FACTORY 2017 Fall」(2017年10月11~13日、東京ビッグサイト)に出展した。アルゴリズムの工夫により、数十~数百枚の画像データから製品不良を検出できるようになったのが特徴。

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